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74LV393DB Datenblatt (PDF) - NXP Semiconductors

74LV393DB Datasheet PDF - NXP Semiconductors
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74LV393DB Produktdetails

DESCRIPTION

The 74LV393 is a low–voltage Si-gate CMOS device and is pin and function compatible with 74HC/HCT393.

The 74LV393 is a dual 4-bit binary ripple counter with separate clocks (1CP, 2CP) and master reset (1MR, 2MR) inputs to each counter.



FEATURES

• Optimized for Low Voltage applications: 1.0 to 3.6V

• Accepts TTL input levels between VCC = 2.7V and VCC = 3.6V

• Typical VOLP (output ground bounce)  0.8V @ VCC = 3.3V, Tamb = 25°C

• Typical VOHV (output VOH undershoot)  2V @ VCC = 3.3V, Tamb = 25°C

• Two 4-bit binary counters with individual clocks

• Divide-by any binary module up to 28 in one package

• Two master resets to clear each 4-bit counter individually

• Output capability: standard

• ICC category: MSI




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Über NXP Semiconductors


NXP Semiconductors ist ein öffentlich gehandeltes multinationales Unternehmen, das eine breite Palette von Halbleitern und integrierten Schaltungen für verschiedene Anwendungen entwirft und herstellt, einschließlich Automobil-, Industrie-, Kommunikations- und Verbrauchermärkte.
Das Unternehmen wurde 2006 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Eindhoven, Niederlande.
NXP bietet ein breites Produktportfolio an, darunter Mikrocontroller, Mikroprozessoren, sichere Authentifizierungs -ICs, ICs, ICs, RF- und Mikrowellenkomponenten sowie Sensorlösungen.
Die Produkte des Unternehmens sind energieeffizient, sicher und zuverlässig und werden in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet, einschließlich Automobilsysteme, industrielle Automatisierung und Steuerung, intelligente Häuser und Gebäude sowie angeschlossene Geräte.
NXP widmet sich der Innovation und der Kundenzufriedenheit und setzt sich dafür ein, den Kunden die besten Halbleiterlösungen zur Verfügung zu stellen, um ihre Bedürfnisse zu erfüllen.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.




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