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74HC138PW-Q100 Datenblatt (PDF) - NXP Semiconductors

74HC138PW-Q100 Datasheet PDF - NXP Semiconductors
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74HC138PW-Q100 Datasheet (PDF)

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74HC138PW-Q100 Datenblatt (HTML) - NXP Semiconductors

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74HC138PW-Q100 Produktdetails

General description
The 74HC138-Q100; 74HCT138-Q100 is a high-speed Si-gate CMOS device and is pin compatible with Low-power Schottky TTL (LSTTL).

Features and benefits
■ Automotive product qualification in accordance with AEC-Q100 (Grade 1)
    ◆ Specified from -40 °C to +85 °C and from -40 °C to +125 °C
■ Demultiplexing capability
■ Multiple input enable for easy expansion
■ Complies with JEDEC standard no. 7A
■ Ideal for memory chip select decoding
■ Active LOW mutually exclusive outputs
■ ESD protection:
    ◆ MIL-STD-883, method 3015 exceeds 2000 V
    ◆ HBM JESD22-A114F exceeds 2000 V
    ◆ MM JESD22-A115-A exceeds 200 V (C = 200 pF, R = 0 Ω)
■ Multiple package options




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Über NXP Semiconductors


NXP Semiconductors ist ein öffentlich gehandeltes multinationales Unternehmen, das eine breite Palette von Halbleitern und integrierten Schaltungen für verschiedene Anwendungen entwirft und herstellt, einschließlich Automobil-, Industrie-, Kommunikations- und Verbrauchermärkte.

Das Unternehmen wurde 2006 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Eindhoven, Niederlande.

NXP bietet ein breites Produktportfolio an, darunter Mikrocontroller, Mikroprozessoren, sichere Authentifizierungs -ICs, ICs, ICs, RF- und Mikrowellenkomponenten sowie Sensorlösungen.

Die Produkte des Unternehmens sind energieeffizient, sicher und zuverlässig und werden in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet, einschließlich Automobilsysteme, industrielle Automatisierung und Steuerung, intelligente Häuser und Gebäude sowie angeschlossene Geräte.

NXP widmet sich der Innovation und der Kundenzufriedenheit und setzt sich dafür ein, den Kunden die besten Halbleiterlösungen zur Verfügung zu stellen, um ihre Bedürfnisse zu erfüllen.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.




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