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74AHC157 Datenblatt (PDF) - NXP Semiconductors

74AHC157 Datasheet PDF - NXP Semiconductors
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74AHC157 Datasheet (PDF)

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74AHC157 Datenblatt (HTML) - NXP Semiconductors


74AHC157 Produktdetails

DESCRIPTION
The 74AHC/AHCT157 are high-speed Si-gate CMOS devices and are pin compatible with low power Schottky TTL (LSTTL). They are specified in compliance with JEDEC standard No. 7A.

FEATURES
• ESD protection: HBM EIA/JESD22-A114-A
    exceeds 2000 V MM EIA/JESD22-A115-A
    exceeds 200 V CDM EIA/JESD22-C101
    exceeds 1000 V
• Balanced propagation delays
• All inputs have Schmitt-trigger actions
• Multiple input enable for easy expansion
• Ideal for memory chip select decoding
• Inputs accept voltages higher than VCC
• For AHC only: operates with CMOS input levels
• For AHCT only: operates with TTL input levels
• Specified from −40 to +85 and +125 °C.




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Über NXP Semiconductors


NXP Semiconductors ist ein öffentlich gehandeltes multinationales Unternehmen, das eine breite Palette von Halbleitern und integrierten Schaltungen für verschiedene Anwendungen entwirft und herstellt, einschließlich Automobil-, Industrie-, Kommunikations- und Verbrauchermärkte.
Das Unternehmen wurde 2006 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Eindhoven, Niederlande.
NXP bietet ein breites Produktportfolio an, darunter Mikrocontroller, Mikroprozessoren, sichere Authentifizierungs -ICs, ICs, ICs, RF- und Mikrowellenkomponenten sowie Sensorlösungen.
Die Produkte des Unternehmens sind energieeffizient, sicher und zuverlässig und werden in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet, einschließlich Automobilsysteme, industrielle Automatisierung und Steuerung, intelligente Häuser und Gebäude sowie angeschlossene Geräte.
NXP widmet sich der Innovation und der Kundenzufriedenheit und setzt sich dafür ein, den Kunden die besten Halbleiterlösungen zur Verfügung zu stellen, um ihre Bedürfnisse zu erfüllen.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.




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