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71V632 Datenblatt (PDF) - Renesas Technology Corp
71V632 Datasheet PDF - Renesas Technology Corp
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Hersteller  RENESAS [Renesas Technology Corp]
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Bauteilbeschribung 64K x 32 3.3V Synchronous SRAM Pipelined Outputs Burst Counter, Single Cycle Deselect

71V632 Datasheet (PDF)

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Hersteller  RENESAS [Renesas Technology Corp]
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Bauteilbeschribung 64K x 32 3.3V Synchronous SRAM Pipelined Outputs Burst Counter, Single Cycle Deselect

71V632 Datenblatt (HTML) - Renesas Technology Corp


71V632 Produktdetails

Features
◆ 64K x 32 memory configuration
◆ Supports high system speed:
Commercial and Industrial:
– 5 5ns clock access time (100 MHz)
– 6 6ns clock access time (83 MHz)
– 7 7ns clock access time (66 MHz)
◆ Single-cycle deselect functionality
◆ LBO input selects interleaved or linear burst mo◆ Self-timed write cycle with global write control (GW), byte
write enable (BWE), and byte writes (BWx)
◆ Power down controlled by ZZ input
◆ Operates with a single 3.3V power supply (+10/-5%)
◆ Packaged in a JEDEC Standard 100-pin rectangular plastic
thin quad flatpack (TQFP)
◆ Green parts available, see ordering informationde




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OCTOBER 2014
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Über Renesas Technology Corp

Renesas Technology Corp ist ein japanisches Halbleiterunternehmen, das eine breite Palette von Mikrocontrollern, System-auf-Chips sowie Analog- und Stromversorgungsgeräten für verschiedene Anwendungen in den Märkten Automobil-, Industrie- und Verbrauchermärkte bietet.
Das Unternehmen wurde 2010 durch die Fusion der NEC Electronics Corporation und der Renesas Technology Corporation gegründet.
Renesas ist einer der größten Mikrocontroller -Lieferanten der Welt und ist bekannt für sein Fachwissen in der Entwicklung fortschrittlicher Technologien in Bereichen wie dem Internet of Things (IoT), künstlicher Intelligenz (KI) und Automobilelektronik.
Das Unternehmen hat in über 20 Ländern betrieben und seine Produkte werden in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.




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