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MB2827 Datenblatt (PDF) - NXP Semiconductors
MB2827 Datasheet PDF - NXP Semiconductors
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Hersteller  PHILIPS [NXP Semiconductors]
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Bauteilbeschribung Dual 10-bit buffer/line driver; non-inverting 3-State

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MB2827 Produktdetails

DESCRIPTION
The MB2827 high-performance BiCMOS device combines low static and dynamic power dissipation with high speed and high output drive.
The MB2827 20-bit buffers provide high performance bus interface buffering for wide data/address paths or buses carrying parity. They have NOR Output Enables (nOE1, nOE2) for maximum control flexibility.

FEATURES
• Multiple VCC and GND pins minimize switching noise
• Live insertion/extraction permitted
• 3-State output buffers
• Power–up 3-State
• Output capability: +64mA/–32mA
• Latch-up protection exceeds 500mA per Jedec JC40.2 Std 17
• ESD protection exceeds 2000 V per MIL
   STD 883 Method 3015 and 200 V per Machine Model




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Über NXP Semiconductors

NXP Semiconductors ist ein öffentlich gehandeltes multinationales Unternehmen, das eine breite Palette von Halbleitern und integrierten Schaltungen für verschiedene Anwendungen entwirft und herstellt, einschließlich Automobil-, Industrie-, Kommunikations- und Verbrauchermärkte.
Das Unternehmen wurde 2006 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Eindhoven, Niederlande.
NXP bietet ein breites Produktportfolio an, darunter Mikrocontroller, Mikroprozessoren, sichere Authentifizierungs -ICs, ICs, ICs, RF- und Mikrowellenkomponenten sowie Sensorlösungen.
Die Produkte des Unternehmens sind energieeffizient, sicher und zuverlässig und werden in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet, einschließlich Automobilsysteme, industrielle Automatisierung und Steuerung, intelligente Häuser und Gebäude sowie angeschlossene Geräte.
NXP widmet sich der Innovation und der Kundenzufriedenheit und setzt sich dafür ein, den Kunden die besten Halbleiterlösungen zur Verfügung zu stellen, um ihre Bedürfnisse zu erfüllen.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.




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