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74AHCT08 Datenblatt (PDF) - NXP Semiconductors

74AHCT08 Datasheet PDF - NXP Semiconductors
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74AHCT08 Datasheet (PDF)

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74AHCT08 Datenblatt (HTML) - NXP Semiconductors


74AHCT08 Produktdetails

General description
The 74AHC08; 74AHCT08 is a high-speed Si-gate CMOS device and is pin compatible with Low-power Schottky TTL (LSTTL). They are specified in compliance with JEDEC standard JESD7-A.
The 74AHC08; 74AHCT08 provides the quad 2-input AND function.

Features
■ Balanced propagation delays
■ All inputs have a Schmitt-trigger action
■ Inputs accepts voltages higher than VCC
■ For 74AHC08 only: operates with CMOS input levels
■ For 74AHCT08 only: operates with TTL input levels
■ ESD protection:
    ◆ HBM JESD22-A114E exceeds 2000 V
    ◆ MM JESD22-A115-A exceeds 200 V
    ◆ CDM JESD22-C101C exceeds 1000 V
■ Multiple package options
■ Specified from −40 °C to +85 °C and from −40 °C to +125 °C




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Über NXP Semiconductors


NXP Semiconductors ist ein öffentlich gehandeltes multinationales Unternehmen, das eine breite Palette von Halbleitern und integrierten Schaltungen für verschiedene Anwendungen entwirft und herstellt, einschließlich Automobil-, Industrie-, Kommunikations- und Verbrauchermärkte.

Das Unternehmen wurde 2006 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Eindhoven, Niederlande.

NXP bietet ein breites Produktportfolio an, darunter Mikrocontroller, Mikroprozessoren, sichere Authentifizierungs -ICs, ICs, ICs, RF- und Mikrowellenkomponenten sowie Sensorlösungen.

Die Produkte des Unternehmens sind energieeffizient, sicher und zuverlässig und werden in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet, einschließlich Automobilsysteme, industrielle Automatisierung und Steuerung, intelligente Häuser und Gebäude sowie angeschlossene Geräte.

NXP widmet sich der Innovation und der Kundenzufriedenheit und setzt sich dafür ein, den Kunden die besten Halbleiterlösungen zur Verfügung zu stellen, um ihre Bedürfnisse zu erfüllen.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.




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