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FCP11N60 Datenblatt (PDF) - ON Semiconductor
FCP11N60 Datasheet PDF - ON Semiconductor
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Bauteilbeschribung N-Channel SuperFET® MOSFET

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FCP11N60 Datenblatt (HTML) - ON Semiconductor


FCP11N60 Produktdetails

General Description
SuperFET® MOSFET is Fairchild Semiconductor’s first genera-tion of high voltage super-junction (SJ) MOSFET family that is utilizing charge balance technology for outstanding low on-resistance and lower gate charge performance. This technology is tailored to minimize conduction loss, provide superior switch-ing performance, dv/dt rate and higher avalanche energy. Con-sequently, SuperFET MOSFET is very suitable for the switching power applications such as PFC, server/telecom power, FPD TV power, ATX power and industrial power applications.

Features
• 650V @Tj = 150°C
• Typ. Rds(on)=0.32Ω
• Ultra low gate charge (typ. Qg=40nC)
• Low effective output capacitance (typ. Coss.eff=95pF)
• 100% avalanche tested
• RoHS Compliant




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Über ON Semiconductor

ON Semiconductor befindet sich ein börsennotiertes Unternehmen, das eine breite Palette von Halbleiterprodukten für eine Vielzahl von Anwendungen entwirft, entwickelt und herstellt, darunter Automobil-, Computer-, Konsumgüter-, Industrie- und Kommunikationsmärkte.
Das Unternehmen wurde 1999 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Phoenix, Arizona.
Über Semiconductor bietet unter anderem ein breites Portfolio an analogen und diskreten Halbleitern, einschließlich LeistungsmOSFETs, Dioden, Gleichrichter, Spannungsregulatoren.
Die Produkte des Unternehmens sind energieeffizient, zuverlässig und kostengünstig und werden in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet, darunter tragbare Elektronik, industrielle Automatisierungssysteme, erneuerbare Energiesysteme und Automobilelektronik.
Semiconductor engagiert sich für Innovation und Kundenzufriedenheit und setzt sich dafür ein, die besten Halbleiterlösungen für die Bedürfnisse unserer Kunden zu bieten.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.




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